概述

TDF系列X射線晶體分析儀是研究物質(zhì)內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的一種大型分析儀器，主要應(yīng)用于單晶定向、檢驗缺陷、測定點陣參

數(shù)、測定殘余應(yīng)力、研究板材、棒材的結(jié)構(gòu)、研究未知物質(zhì)的結(jié)構(gòu)和單晶位錯等。

特點

TDF系列X射線晶體分析儀采用立式管套，四個窗口可以同時使用。

TDF系列X射線晶體分析儀采用進(jìn)口PLC控制技術(shù)，控制精度高、抗干擾性好，可實現(xiàn)本系統(tǒng)可靠地工作，PLC控制高壓的

開關(guān)、升降、具有自動訓(xùn)練X光管的功能，有效的延長X射線管及儀器的使用壽命。

X射線照相機(jī)

勞厄相機(jī)（大小粉末）

平板相機(jī)

三維樣品臺

X射線防護(hù)罩

采用高密度、高透光性道德鉛玻璃作為X射線防護(hù)罩。